主要规格及技术指标

1. 频率范围：10 MHz~40 GHz
2. 测量功能：能测量S11、S21、S12、S22、Smith圆图
3.动态范围：能达到132 dB（典型值）
4.测试端口输出功率范围：-30dBm~+12dBm（典型值）
5.校准方式：手动或自动校准
6.端口数： 2 个
7.测量带宽：1 Hz 至 1 MHz，1/3/5/7 步进
8. *每测量点捕获时间：≤ 3 μs(连续波模式, 1MHz 测量带宽)
9. *每测量点采样时间：≤ 1μs( 1MHz 测量带宽)
10.迹线噪声幅度值（RMS）：
< 0.005dB, typ. 0.002dB（2 GHz, 10kHz IF）
< 0.008dB, typ. 0.005dB（40GHz, 10kHz IF）
11.迹线噪声相位值(RMS)：
< 0.035°, typ. 0.015°（2 GHz, 10kHz IF）
< 0.08°, typ. 0.05°（40 GHz, 10kHz IF）
12.噪声电平: (1 kHz测量带宽，归一化至1 Hz)
< -118dBm（1 Hz）（2 GHz）
< -105dBm（1 Hz）（40 GHz）
13.测量速度：（201点、500kHz测量带宽条件下，1MHz~40GHz）：≤20ms
14.温度稳定性：0.02dB/°C
15.具备专门的时域分析测试界面
16.显示系统：主机采用彩色高分辨率12.1英寸大屏幕，1280*800像素
17.用户界面：主机采用基于触摸屏的用户界面
18.配件：提供测试线缆和校准件

主要功能及特色

可以测试射频微波器件的各个参数，包含线性S参数，阻抗匹配性能、非线性的交调失真，扫频状态功率压缩点分析、插入损耗等参数，测量频率范围高达40GHz

主要附件及配置

无