主要规格及技术指标

1.1、系统提供9槽PXIe总线机箱，系统带宽为24GB/s。
1.2、主控处理器性能：64位Windows正版操作系统，PXIe总线，提供3.9GHz8核PXI控制器，内存32GB（支持更换成64GB），硬盘500G，系统最大带宽为24GB/s。
1.3、系统提供高精度AI电流模块，采样率为5kS/s/通道，模拟输入电流范围：±20mA；最大差分模拟输入通道数量共32路。
1.4、满足高精度测试要求，模拟输入分辨率为24bits。
1.5、系统提供总计24通道源测量单元（SMU），支持PXIe总线。
1.6、系统源测量单元（SMU）每通道采样率为100kS/s。
1.7、系统源测量单元（SMU）灵敏度每通道为10pA。
1.8、系统源测量单元（SMU）直流电压范围：±24V，直流电流量程：±50mA。
1.9、系统提供高精度AI电压模块，分辨率可调范围在16~28位。
1.10、提供32路模拟电压输入通道，测试范围：±0.1V，±1V，±5V，±10V，±15V。
1.11、系统提供正版LabVIEW图形化编程语言，提供标准阵列测量范例程序，可实现源测量单元（SMU）的阵列测试。
1.12、系统设备供应商保证提供官方正品，不会提供任何形式的二手产品。
1.13、系统提供拉伸试验机模块，台式试验机载荷能力不小于500N；载荷测量精度：示值的±0.5%以内。

主要功能及特色

能够搭配多核实时控制器，支持Windows/实时系统，高速总线低延迟调度多卡同步触发，实现源、测同步时序控制。
支持四线开尔文远端传感、pA级微电流检测，可独立或双通道联动输出阶梯/扫描/脉冲电压，完成MOS管、分立半导体转移特性、输出特性、阈值电压、跨导、静态漏电流测试，捕捉开关瞬态波形、米勒平台、温升动态变化，与SMU同步采集实现电特性+动态波形联合分析。

主要附件及配置

1、PXIe多功能数据测试系统1套。
2、拉伸试验机模块1套。