主要规格及技术指标

物理参数：设备尺寸，XC FLITE FX1为长23.1厘米，宽13.1厘米，高6.0厘米；XC FLITE FX2为长38.6厘米，宽13.1厘米，高6.5厘米；XC FLITE FX3为长54.0厘米，宽13.1厘米，高6.5厘米。温度控制方式为内部Peltier温度控制。工作环境温度为10摄氏度至40摄氏度，储藏温度为零下10摄氏度至60摄氏度，适用湿度范围为百分之10至百分之95。射线窗材料为碳纤维，厚度为500微米。射线屏蔽方式根据具体应用配置。

传感器参数：传感器数量，FX1为1个，FX2为2个，FX3为3个。传感器类型为双能光子计数CdTe CMOS传感器。传感器厚度为0.75毫米至2.0毫米CdTe。有效成像面积，FX1为154.7毫米乘12.8毫米，对应1536乘128像素；FX2为309.4毫米乘12.8毫米，对应3072乘128像素；FX3为464.1毫米乘12.8毫米，对应4608乘128像素。像素尺寸为100微米。像素填充率以厂家技术资料为准。

性能参数：最高帧率为1000帧每秒，也可选择时间延迟求和模式。动态范围为12位。支持像素合并模式，包括1乘1，2乘2，4乘4。曝光时间范围为100微秒至5秒。DQE零频值为百分之85，测试条件为RQA5谱。MTF指标为2线对每毫米时大于百分之80，5线对每毫米时大于百分之45。适用管电压范围为15千伏峰值至250千伏峰值。设备支持内部伪随机调试测试模式。外部触发输出为3.3伏TTL，输入为5伏。滞后为百分之0。拖影小于百分之0.1，测试条件为X射线开启后1分钟，剂量12微戈瑞。设备可提供分辨率曲线和DQE曲线，支持反符合功能开启和关闭状态下的性能对比。

主要功能及特色

用于X射线数字成像与能量分辨检测的高灵敏度光子计数型探测设备，可与实验室X射线源、控制系统及图像采集分析软件配套使用，实现样品透射成像、双能成像、灰度分析和内部结构观察。设备采用光子计数探测方式，可对入射X射线光子进行直接探测和能量阈值区分，具有低噪声、高对比度、高空间分辨率和双能材料区分等特点。
本设备主要应用于材料科学、生物医学工程、药学、生命科学、食品安全、工业检测、电子器件检测等研究方向。可用于小型材料样品、生物组织标本、药物制剂、复合材料、电子元器件、小型工业零部件等对象的内部结构观察、缺陷识别、密度差异分析、材料分辨、无损检测及X射线成像方法研究。适用于科研实验、样品检测、图像算法验证和相关教学科研支撑工作。

主要附件及配置

无