主要规格及技术指标

其以6纳米超高分辨率、350000倍极限放大率，精准捕捉样品微观形貌细节；集成能谱探测器，借Element Identification实现点线面元素分析，快速呈现元素分布；15秒极速抽真空、免喷金观测绝缘体，搭配长寿命CeB6灯丝与无外接部件的能谱设计，灯丝发射电子密度：106 A/cm2 sr操作便捷且维护成本低；操作环境 15℃-30℃，采用半导体制冷，观察模式多样，具备全面模式 BSD Full(形貌和成份)、形貌模式 Topo A 形貌模式 Topo B 模式，SED 模式，SED/BSD 模式。图像分辨率可选择种类多样提供 960 x 600、1920 x 1200、3840 x 2400 和 7680 x 4800 像素。
元素探测范围：B(5)~Am(95)；探测器晶体活性面积：30mm2；能谱探测器类型为硅漂移探测器（SDD）；探测器窗口为Si3N4 窗口，能谱计数率：≥60000CPS。

主要功能及特色

材料领域可剖析金属、高分子等材料微观结构与成分，辅助材料研发；纳米技术方面助力优化纳米材料制备；能检测材料缺陷，提升材料性能；生命科学中结合能谱解析生物样品元素与代谢；可用于材料质量把控，全方位为科研赋能 。

主要附件及配置

主机部分：电子光学系统， X 射线能谱仪，扫描控制单元。
附件部分：多种探测器附件，样品台附件，真空系统附件，图像增强与处理附件。
连接与通讯部分：稳定可靠的电源连接，保障仪器各部件稳定运行；高速数据通讯接口，实现大量分析数据的快速传输；标准化软件通讯协议，确保仪器与计算机及其他设备间高效、准确的数据交互。
安全与防护部分：多重安全防护装置，预防潜在风险；全封闭防护罩与隔离装置，防止射线泄漏及操作人员意外接触危险部件；醒目的安全提示与标识，时刻提醒操作规范与注意事项。
微区元素形貌分析仪凭借主机、附件、连接与通讯、安全与防护等各部分的紧密配合与协同运作，能够对材料微观形貌和元素组成进行精确分析，为材料科学、化学、生物学等多领域的研究与应用提供关键数据支持。