主要规格及技术指标

检测角度为背向173°、前向13°和侧向90°，可自动优化测量位置，也可在0-4.64mm任意固定位置进行测量。可自动选择测试次数，也可手动选择测试次数，测试次数可在1-100之间选择。测量时长至少可选择0.839s，1.68s、3.36s、6.71s、13.4s和26.8s。

主要功能及特色

Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，是一款强大的粒度与Zeta电位分析仪。

主要附件及配置

无