仪器分类
1. 分辨率:点分辨率 0.24 nm;线分辨率 0.102 nm;信息分辨率 0.19 nm。
2. 加速电压20-200 kV
3. Schottky热场发射电子枪晶格分辨率 0.10 nm,
4. 最小束斑尺寸≤0.3nm
5. 最大倾转角 ± 40°
6. 最小能量分散 200kv下0.7eV或更低
7. HRTEM分辨率 0.19nm
8. X射线能谱分辨率 127eV 分辨范围 Be - U
9. 三维重构 3D -70 o ---70 o
10. CCD相机 4K×2.7K
1. 形貌观察(TEM)
2. 高分辨(HRTEM)
3. 选区电子衍射(SAED)
4. X射线能谱分析(EDX)
5. 原子序数Z-衬度成像(STEM),
6. 点、线、面扫分析 (Mapping)
7. 三维重构
HAADF STEM; EDS
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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