仪器分类
X射线粉末衍射仪
X射线粉末衍射仪
仪器编号
201116960E
规格
40Kv 40mA
生产厂家
布鲁克
型号
D8 ADVANCE
制造国家
德国
分类号
03030502
放置地点
ArrayD4-103
出厂日期
2009-04-09
购置日期
2009-04-09
入网日期
2025-04-23

主要规格及技术指标

射线源: Cu靶
2θ角扫描范围:0.2–150 °
测角仪精确度:0.001 °
样品室控温范围:室温至450 ℃, 控制精度:0.1 ℃。
探测器:LynxEye半导体阵列探测器,最大计数:1.3×108cps

主要功能及特色

应用于晶体物质定性和定量相分析,结晶学分析,结构解析、织构和残余应力分析等;可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料物相鉴定,材料可以是单晶体、多晶体、薄膜等片状、块状、粉末状固体。能在控制气氛和程序控温条件下现场原位分析物质结构的变化。配备lynxeye 超能检测器,使检测灵敏度提高一个量级,可以达到或超出旋转阳极靶的效果。

主要附件及配置

配备高温检测单元,可测试常温到450℃区间。

公告名称 公告内容 发布日期