仪器分类
冷场扫描电子显微镜
冷场扫描电子显微镜
仪器编号
规格
JSM-7500
生产厂家
日本电子
型号
制造国家
日本
分类号
放置地点
Array七一路校区d4-109
出厂日期
2009-06-04
购置日期
2009-06-04
入网日期
2025-04-16

主要规格及技术指标

分辨率:1.0nm (15kV)/1.4nm (1kV);加速电压:0.1KV-30kV; 放大倍数:25-100万倍;EDS:Be-Fm,分辨率优于138 eV ( MnKa )。

主要功能及特色

广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效的仪器。另外,该仪器还可以利用配置的X射线能谱仪对样品表面进行面、点、线微区分析,是研究材料结构、组成与性能关系所不可缺少的表征设备。
主要测试项目:表面微观结构的观察和成分分析

主要附件及配置

EDS 溅射仪,背散射探头

公告名称 公告内容 发布日期